想象一下，将U盘置之不理长达六年，里面的数据还能否完好无损？一位用户进行了这个长期测试，并分享了实验结果。
U盘可靠性实验
该实验始于2019年底，用户一次性购买了10个32GB的U盘，并写入随机数据后存放在抽屉中。每隔几年，他会取出一个U盘进行读取验证。
实验目的
探究在长期断电、不使用的情况下，U盘中的数据能保存多久。
试验设备
使用的U盘型号为Kingston Digital DataTraveler SE9 32GB USB 2.0 Flash Drive (DTSE9H/32GBZ)。
- 型号：DTSE9H/32GBZ
- 条形码：740617206432
- WO#：8463411X001
- ID：2364
- bl：1933
- 序列号：206432TWUS008463411X001005
实验内容：错峰读取
实验采用“错峰读取”的方式，第一天就将10个U盘写满随机数据，然后存放在抽屉中。在指定年份，拿出一个U盘进行读取测试（checksum校验），同时复测较早测试过的U盘，并重新写入数据。
- 测试年份：1, 2, 3, 4, 6, 8, 11, 15, 20, 27
完整计划
| 年份 | 首次测试（关键样本） | 复测并重写的U盘 | 说明 |
|---|---|---|---|
| 1 | 1 | — | 第1号盘：1年样本 |
| 2 | 2 | 1 | 第2号盘：2年样本 |
| 3 | 3 | 1,2 | 第3号盘：3年样本 |
| 4 | 4 | 1,2,3 | 第4号盘：4年样本 |
| 5 | — | 1,2,3 | 无新样本 |
| 6 | 5 | 1,2,3,4 | 第5号盘：6年样本 |
| 7 | — | 1,2,3 | 无新样本 |
| 8 | 6 | 1,2,3,4,5 | 第6号盘：8年样本 |
| 9 | — | 1,2,3 | 无新样本 |
| 10 | — | 1,2,3,4,5,6 | 无新样本 |
| 11 | 7 | 1,2,3 | 第7号盘：11年样本 |
| 12 | — | 1,2,3,4,5,6 | 无新样本 |
| 13 | — | 1,2,3 | 无新样本 |
| 14 | — | 1,2,3,4,5,6 | 无新样本 |
| 15 | 8 | 1,2,3,7 | 第8号盘：15年样本 |
| 16 | — | 1,2,3,4,5,6 | 无新样本 |
| 17 | — | 1,2,3 | 无新样本 |
| 18 | — | 1,2,3,4,5,6 | 无新样本 |
| 19 | — | 1,2,3,7,8 | 无新样本 |
| 20 | 9 | 1,2,3,4,5,6 | 第9号盘：20年样本 |
| 21 | — | 1,2,3 | 无新样本 |
| 22 | — | 1,2,3,4,5,6 | 无新样本 |
| 23 | — | 1,2,3,7,8 | 无新样本 |
| 24 | — | 1,2,3,4,5,6 | 无新样本 |
| 25 | — | 1,2,3 | 无新样本 |
| 26 | — | 1,2,3,4,5,6 | 无新样本 |
| 27 | 10 | 1,2,3,7,8 | 第10号盘：27年样本 |
| 28 | — | 1,2,3,4,5,6,9 | 无新样本 |
实验结果
实验从2019年11月开始，到2026年1月，作者发布了第6年的实验结果。到目前为止，所有测试过的U盘都表现正常，没有出现任何数据损坏。
目前看来，U盘放6年，没有任何问题。
复测U盘
在实验过程中，有一个复测并重写阶段，可以理解为：该U盘已经完成任务（限制N年不通电，是否可读取），此后是新任务：当作普通U盘使用，用于持续读写和稳定性验证。
一个建议
另外注意：U盘里的数据，本质上是靠“电荷”存储在闪存单元中的。随着时间推移，这些电荷会慢慢泄漏，原本表示“0”和“1”的电压差逐渐变小。
当这种差异小到一定程度，控制器就可能读错数据，于是就出现了所谓的 bit rot（位错误）。
除了时间：
- 温度越高，泄漏速度越快
- 擦写次数越多 → 存储单元老化越严重
所以，隔几年把U盘拿出来读写一次，以防数据丢失。